• Elektronové mikroskopy FEI
  1. TEM
  2. SEM
  3. SDB
  4. FIB
  5. Volitelné položky
• Stolní elektronové zobrazovací zařízení
  1. Stolní elektronový mikroskop Phenom
• EDX mikroanalýza a EBSD EDAX
  1. Rentgenová mikroanalýza
  2. TSL krystalografie
  3. Systémy EDS, EBSD a WDS
  4. Standardy pro rentgenovou mikroanalýzu
• Zařízení pro přípravu vzorků Quorum Technologies
  1. Naprašovačky kovů, uhlíku
  2. Vakuové odpařovačky
  3. Sušení ke kritickému bodu, vymražování
  4. Plasmový reaktor
  5. Kryo SEM preparace
• Přístroje pro analýzu povrchů a tenkých vrstev PHI
  1. Rentgenová fotoelektronová spektroskopie XPS - ESCA
  2. Hmotová spektroskopie sekundárních iontů SIMS
  3. Augerova elektronová spektroskopie AES
• Digitální kamery SIS pro elektronové mikroskopy
  1. Digitální kamery pro elektronové mikroskopy
  2. Software
  3. Digitalizace mikroskopů
• Mikroskopy a inspekční pomůcky Pyser
  1. Kalibrační škály a standardy, přenosné mikroskopy
  2. Lupy Inspecta
  3. Přenosné mikroskopy Inspecta
• Spotřební materiál SPI
  1. Vše pro elektronovou a optickou mikroskopii

Sušení ke kritickému bodu je zavedená metoda sušení biologických tkání před zkoumáním v rastrovacím elektronovém mikroskopu. Tato technika přípravy vzorků pro skenovací elektronové mikroskoy (SEM) byla poprvé komerčně představena firmou Polaron v roce 1970.

Příprava vzorku pro transmisní elektronovou mikroskopii (TEM) a rastrovací elektronovou mikroskopie (SEM) sušením vymražováním je dobře zavedenou praxí. Snižuje účinky deformace a smršťování, které se objeví při sušení mokrého vzorku běžným odpařováním, jelikož tato metoda znamená opatrnou sublimaci zmrazeného vzorku ve vakuu.

E3000, E3001 - sušení ke kritickému bodu

K850, K850WM - sušení ke kritickému bodu

K750X, K775X - sušení vymražováním