FEI

Transmisní elektronové mikroskopy - TEM


Transmisní elektronové mikroskopy 300 kV pro nanotechnologie


Tecnai G2

F30

lupazvětšit obrázek

Tecnai G2 F30

Řada mikroskopů Tecnai G2 F30 jsou spolehlivé a osvědčené (skenovací) transmisní elektronové mikroskopy s autoemisním zdrojem a unikátním uživatelským rozhraním. Příslušenství, které lze k těmto mikroskopům připojit, je do tohoto rozhraní vestavěno, což znamená, že obsluha může upravovat celkovou funkčnost systému v jediném koherentním rozhraní. Tak je zaručeno ovládání všech schopností systému uživateli s různou úrovní zkušeností.

 

 

Specifikaci mikroskopů Tecnai G2 F30 naleznete níže v tabulce I.

 

Proteomika, bionanotechnologie, chemie


 

Tecnai G2

Polara

lupazvětšit obrázek lupazvětšit obrázek
Polara Polara

 

Během poslední dekády jsme byli svědky revoluce v chápání procesů odpovědných za udržování, přenos a vyjádření genetických informací na buněčné úrovni. Zatímco DNA nese informace pro syntézu proteinů a RNA provádí instrukce zakódované v DNA, proteiny uskutečňují většinu biologických aktivit. Jejich syntéza, stuktura a funkce jsou jádrem buněčných funkcí. Aby došlo ke skutečnému pochopení funkcí proteinů, musí být nejprve rozpoznáno jejich nitrobuněčné a mezibuněčné chování a interakce s buněčnými organelami nebo patogeny, a za druhé musí být určen jejich tvar a trojrozměrná struktura až do atomární úrovně.

K tomuto účelu je vhodný právě mikroskop Tecnai G2 Polara.

 

Specifikaci mikroskopu Tecnai G2 Polara naleznete níže v tabulce II.

 

TABULKA I.

Specifikace Tecnai G2 F30

Elektronový zdroj

Schottkyho emitor s vysokým maximálním proudem svazku (> 100 nA)

Vysoký proud sondy (> 0.6 nA v 1 nm stopě, > 15 nA v 10 nm stopě)

Malé rozptýlení energie (0.8 eV nebo méně)

Drift stopy < 1 nm/minutu

Vysoká stabilita emise a dlouhá životnost

Zobrazování

Patentované čočky objektivu TWIN, S-TWIN a U-TWIN

Vynikající informační limit U-TWIN (dosažitelných < 0.10 nm)

Seřízení bez koma pro vysokorozlišovací centrování čočky objektivu

Řada zvětšení a difrakcí bez otočení

Zvětšení reprodukovatelné v rozmezí 1.5 %

Vestavěná CCD kamera/energiový filtr

STEM

Plně digitální rastrovací systém

Režim jasného pole a prstencového tmavého pole

Ultra vysokorozlišovací detektor HAADF STEM

Mikroanalýza

Vynikající výkon EDX

Nízké pozadí systému v EDX (<1% nepravých píků)

Vestavění EDX, EELS a energiového filtru

Zobrazení spektra pomocí paralelních detektorů

Stolek vzorku

Plně ovládaný počítačem, eucentrický postranní vstup, vysoce stabilní CompuStage

X, Y posun 2 mm, velikost vzorku 3 mm

Maximalizované náklony pro jakoukoli kombinaci X, Y, Z, α, ß

Reprodukovatelnost vyvolání vzorku:

≤ 0.1 µm (x, y) a ≤ 0.1° (α náklon)

Drift < 0,5  nm/min se standardním držákem

Volba řady držáků vzorků včetně držáku s dvojitým náklonem a nízkým pozadím

Vakuový systém

Plně zajištěná diferenčně odčerpávaná kolona

Čistý vakuový systém s turbomolekulárním čerpadlem pro předčerpání prostoru kolony, děla a vzduchového uzávěru

IGP čerpadlo 150 l/s pro odčerpání prostoru vzorku

Trubice lineru jsou odčerpávány přídavným IGP čerpadlem

Ultra vysoké vakuum pro nekontaminované pozorování vzorku

Úrovně vakua: komora vzorku 2.7 × 10-5 Pa, oblast děla 5 × 10-7 Pa

Výměna plan kamery bez nutnosti vypínat vysoké napětí nebo emitor

Ovládání systému

Nejnovější uživatelské rozhraní: pravidelně aktualizované a vylepšované

Operační systém Windows®XP

20" LCD monitor

Dálkové ovládání (volitelně)

Motorizované clony (volitelně)

Skriptovací SW modul (volitelně)

Nejmodernější filtrovací SW (volitelně)

Druhý monitor (volitelně)

Připraveno pro připojení do sítě LAN

Dokumentace

pracovní příručka v angličtině a v češtině na CD

on-line pomoc

Čočka objektivu

TWIN

S-TWIN

U-TWIN

Bodové rozlišení TEM (nm)

0.24

0.20

0.17

Čárové rozlišení TEM (nm)

0.144

0.102

0.102

Cs objektiv (mm)

2.0

1.2

0.65

Cc objektiv (mm)

2.2

1.4

1.4

Ohnisková vzdálenost (mm)

2.7

2.3

2.6

Informační limit (nm)

0.15

0.14

0.102

Rozšířené rozlišení (TrueImage)(nm)

0.17

0.16

0.12

Minimální krok zaostření (nm)

3.0

1.8

0.5

Rozsah TEM zvětšení

58 - 800 000 ×

60 - 1 000 000 ×

60 - 970 000 ×

Rozlišení STEM HAADF (nm)

0.24

0.19

0.14

Vzdálenost kamery (mm)

100 - 5 600

80 - 4 500

90 - 5 000

Difrakční úhel

20°

26°

32°

Rozsah STEM zvětšení

150 - 2 300 000 ×

150 - 2 300 000 ×

150 - 2 300 000 ×

EDS pevný úhel (sr)

0.13

0.13

0.13

Úhel náklonu (držák s dvojitým náklonem)

± 70°

±40°

±24°

Úhel náklonu (tomografický držák)

±70°

±70°

nelze použít

 

TABULKA II.

Specifikace Tecnai G2 Polara

Elektronový zdroj

Schottkyho emitor

Velmi vysoká prostorová koherence kvůli vysokému jasu

Velmi vysoká časová koherence kvůli malému rozptýlení energie (0.8 eV nebo méně)

Vysoká stabilita emise a dlouhá životnost

Čočka objektivu TWIN

Rozlišení bodu (nm)

0.236

Informační limit (nm)

Při vysokém zvětšení

≤ 0.16

Při zvětšení 59 000 ×:

0° náklon   ≤ 0.2

45° náklon  ≤ 0.23

70° náklon  ≤ 0.34

Cs objektiv (mm)

2.0

Cc objektiv (mm)

2.2

Ohnisková vzdálenost (mm)

2.7

Maximální eucentrický náklon

± 70°

Osvětlovací systém

Pět čoček

Uživatelem volitelný limit intenzity pro ochranu vzorku

Uživatelem volitelný zoom pro stálou intenzitu stínítka

Nízké dávkování pro ochranu vzorku

Zobrazování

Patentovaná čočka objektivu TWIN

Vysoký náklon a velké zorné pole

Zvětšení bez otočení

Zvětšení reprodukovatelné v rozmezí 1.5 %

Vestavěná CCD kamera

Plan kamera s 56 listy filmu

Stolek vzorku

Plně ovládaný počítačem, eucentrický postranní vstup, vysoce stabilní CompuStage

X, Y posun 2 mm, velikost vzorku 3 mm

Maximalizované náklony pro jakoukoli kombinaci X, Y, Z, α, ß

Volba 6 různých držáků vzorků (6 úložných pozic pro zásobníky)

Reprodukovatelnost vyvolání vzorku:

≤ 0.5 µm (x, y) a ≤ 0.5° (α náklon)

Drift při:

0° náklonu < 0.5 nm/min

45° náklonu < 1.5 nm/min

70° náklonu < 2.5 nm/min

Posun obrazu < 2.0 µm při ± 70° náklonu (pro automatickou tomografii)

Heliový systém

Minimální teplota zásobníku

< 15 K

Doba výdrže zásobníku kapalného helia

> 6 hod

Časový cyklus vzduchového uzávěru
(přenos 6 kazet ve vakuu po přípravě v kryo pracovní stanici)

< 15 min

Vložení vzorku (kazety) do kolony

< 2 min

Ustavení na nízkou teplotu po vložení do kolony

< 10 min

Vakuový systém

Plně zajištěná diferenčně odčerpávaná kolona

Bezolejový systém molekulového čerpadla, předčerpávání prostoru děla, kolony a vzduchového uzávěru vzorku

Trubice lineru jsou odčerpávány přídavným IGP čerpadlem

Ultra vysoké vakuum pro nekontaminované pozorování vzorku

Úrovně vakua v komoře vzorku 10-5 Pa, v oblasti děla 10-6 Pa

Výměna plan kamery bez nutnosti vypínat vysoké napětí nebo emitor

Ovládání systému

Operační systém Windows®XP

20" LCD monitor

Dálkové ovládání (volitelně)

Motorizované clony (volitelně)

Skriptovací SW modul (volitelně)

Druhý monitor (volitelně)

Dokumentace

pracovní příručka v angličtině a v češtině na CD

on-line pomoc

 

 

 


 

Domovská stránka FEI www.fei.com

top nahoru

  zpět na titulní stranu EDLIN  ›   zpět o jednu stránku